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Optical characterization of semiconductors infrared, Raman, and photoluminescence spectroscopy Sidney Perkowitz.
Series Techniques of physics ; 14Detalles de publicación: London San Diego Academic Press c1993.Descripción: x, 220 p. ill. 25 cmISBN:- 0125507704 (acid-free paper)
- 621.3815/2/0287 20
- TK7871.85 .P426 1993
| Imagen de cubierta | Tipo de ítem | Biblioteca actual | Biblioteca de origen | Colección | Ubicación en estantería | Signatura topográfica | Materiales especificados | Info Vol | URL | Copia número | Estado | Notas | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | Prioridad de la cola de reserva de ejemplar | Reservas para cursos | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Referencia | Biblioteca Encarnación Valdés Sala de Referencia bev | 621.38152 P451o (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | 80000002018078 |
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This book discusses and compares three principle optical methods (infrared, Raman and photoluminescence analysis) for non-destructive characterization of semi-conducting materials, structures, and devices. Applications are illustrated through many case studies in silicon, GaAs, AIxGal-xAs and other important materials.
Includes bibliographical references (p. [207]-215) and index.
Tabla de contenidos provista por Syndetics
- Introduction
- Optical Theory for Semiconductor Characterization
- Optical Physics of Semiconductors
- Measurement Methods
- Case Studies: Photoluminescence Characterization
- Case Studies: Raman Characterization
- Case Studies: Infrared Characterization
- Summary and Future Trends
- References
- Subject Index