Optical characterization of semiconductors (Registro nro. 160327)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 00987nam a2200289Ia 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | 214261 |
| 003 - NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | BIBL |
| 005 - FECHA Y HORA DE ACTUALIZACIÓN | |
| 005 | 20160527195420.0 |
| 008 - LONGITUD FIJA | |
| campo de control de longitud fija | 940314s1993 enka b 001 0 eng d |
| 010 ## - NÚMERO DE CONTROL DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
| Número de control de LC | 94129981 |
| 015 ## - NÚMERO DE BIBLIOGRAFÍA NACIONAL | |
| Número de bibliografía nacional | GB93-66301 |
| 020 ## - INTERNATIONAL STANDARD BOOK NUMBER | |
| ISBN | 0125507704 (acid-free paper) |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
| Número de control de sistema | (OCoLC)29540358 |
| 040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN | |
| Centro catalogador/agencia de origen | AzTeS |
| Centro/agencia transcriptor | DLC |
| 042 ## - CÓDIGO DE AUTENTICACIÓN | |
| Código de autenticación | lccopycat |
| 049 ## - FONDOS LOCALES (OCLC) | |
| Fondos de biblioteca | PUXA |
| 100 1# - AUTOR PERSONAL | |
| nombre | Perkowitz, S. |
| 9 (RLIN) | 149812 |
| 245 10 - TÍTULO PROPIAMENTE DICHO | |
| título | Optical characterization of semiconductors |
| subtítulo | infrared, Raman, and photoluminescence spectroscopy |
| Mención de responsabilidad, etc. | Sidney Perkowitz. |
| 260 ## - PIE DE IMPRENTA | |
| Ciudad de publicación | London |
| -- | San Diego |
| Editor, distribuidor | Academic Press |
| Fecha de publicación | c1993. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | x, 220 p. |
| Ilustraciones | ill. |
| Dimensiones | 25 cm. |
| 490 #0 - SERIE | |
| Serie | Techniques of physics |
| Numeración de serie | 14 |
| 9 (RLIN) | 177412 |
| 504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA | |
| Bibliografía, etc. | Includes bibliographical references (p. [207]-215) and index. |
| 050 00 - CLASIFICACIÓN LIBRARY OF CONGRESS | |
| clasificación | TK7871.85 |
| Clave de autor | .P426 1993 |
| 082 00 - CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY | |
| Clasificación | 621.3815/2/0287 |
| edición | 20 |
| 100 1# - AUTOR PERSONAL | |
| -- | Local |
| 650 #0 - MATERIA GENERAL | |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial | Semiconductors |
| Subdivisión general | Testing |
| -- | Optical methods. |
| Fuente del encabezamiento o término | Local |
| 9 (RLIN) | 167848 |
| 653 0# - MATERIA NO CONTROLADA | |
| Término no controlado | Semiconductors |
| -- | Optical properties |
| 490 #0 - SERIE | |
| -- | Local |
| Withdrawn status | Lost status | Damaged status | Koha normalized classification for sorting | Not for loan | Collection code | Koha itemnumber | Home library | Current library | Shelving location | Date acquired | Inventory number | Total Checkouts | Full call number | Barcode | Date last seen | Non-public note | Koha item type |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| No | 621_381520000000000_P451O | 270387 | Biblioteca Encarnación Valdés | Biblioteca Encarnación Valdés | Sala de Referencia bev | 27/05/2016 | 308470 | 621.38152 P451o | 80000002018078 | 27/05/2016 | r:214261 | z:NCC:D | Referencia |