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Aspects of planometrics. With contributions by A. Bergstrom, T. Kronsjö, and E. J. Mishan, and editorial assistance by M. J. Ellman.
Detalles de publicación: New Haven Yale University Press 1967.Descripción: xiii, 318 p. illus. 23 cmTema(s): Clasificación CDD:- 338.947
- HC336.2 .Z37
| Imagen de cubierta | Tipo de ítem | Biblioteca actual | Biblioteca de origen | Colección | Ubicación en estantería | Signatura topográfica | Materiales especificados | Info Vol | URL | Copia número | Estado | Notas | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | Prioridad de la cola de reserva de ejemplar | Reservas para cursos | |
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| Libro | Biblioteca Encarnación Valdés Colección General bev | 338.947 Z39 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | 80000000451115 |
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Bibliographical footnotes.